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铝生产

永利皇宫娱乐场的分析技术如何帮助实现生产目标,确保质量并节省铝行业的成本。

X射线荧光

XRF为材料表征,等级和过程控制提供化学分析。 XRF不仅常规用于采矿过程中的勘探和开采,还用于氧化铝生产,电解过程中,最后用于金属表征。 通常分析的材料包括铝土矿; 氧化铝和赤泥; 电解添加剂,如冰晶石,CaF 2 ,AlF 3 ,MgF 2或LiF; 浴电解质本身; 铸铝及其合金。 此外,用XRF研究了耐火材料,用于阳极生产的原料和阳极煤。

Micro-XRF可根据工业标准对常规质量控制和失效分析进行元素组成,分布和涂层不均匀性分析。 永利皇宫娱乐场的桌面仪器可通过X射线管和低至0.5 mm的准直或低至20μm的多毛细管光学仪器进行快速,无损分析。

X射线衍射

XRD直接测量矿物学。 了解铝土矿中的矿物杂质,如粘土或铁矿石,是氧化铝精炼厂选矿的关键,从而减少了残留物。 在冶炼厂中,XRD测量凝结电解质的矿物学。 导出对于管理冶炼炉单元的操作必不可少的控制参数。 此外,通过XRD监测阳极质量。

电子显微镜分析仪

诸如QUANTAX系统的电子显微镜分析仪提供非破坏性方法和工具,以执行空间分辨的成分和晶体学分析。 扫描和透射电子显微镜( SEMTEM )提供极高的分辨率,并有机会使用永利皇宫娱乐场 QUANTAX EDS系统进行能量色散光谱测定,以便在空间分辨率最高的情况下进行无机材料分析。

使用XSense波长色散光谱仪,由于其出色的能量分辨率,可以更好地确定低能量或轻元素范围内的挑战性材料。 使用基于SEM的QUANTAX EBSD (电子背散射衍射)系统,可以获得晶体取向图以理解晶体学和相界,并研究材料中的变形。 最后, XTrace允许在SEM上结合Micro-XRF和EDS分析,为Micro-XRF的痕量元素和EDS的光元件性能提供高灵敏度。

发射光谱学

OES是另一种化学分析技术。 OES同时测量各种元素。 它用于金属和合金表征。 特别强度是它对轻元素的敏感性。 因此,它完美地补充和支持XRF。