永利皇宫娱乐场
自动AFM横幅


复合半导体的X射线计量学

永利皇宫娱乐场提供X射线测量工具,用于外延层薄膜的质量控制监测以及各种半导体薄膜和晶圆的详细研发分析。

永利皇宫娱乐场的JV-QC3和JV-QCVelox具有高强度光源和高动态范围探测器,可实现快速吞吐量和可重复测量。 它们能够快速反馈外延膜的质量和成分,尤其是GaN和III-V材料。 该反馈可以在本地或自动传送到工厂主机软件。

JV-DX X射线测量系统提供用于材料研究,工艺开发和质量控制的薄膜分析。 作为一种先进的通用X射线衍射仪,它结合了所有标准技术,并结合了业界领先的分析软件。 其功能和特性的结合使JV-DX成为理想的多应用薄膜材料研究工具,可满足您当前和未来的计量需求。

Lee Hodge Semiconductor testimonial v2
JV QC3产品图片v1

JV-QC3

HRXRD用于GaN LED和III-V材料的外延层质量控制

JV QCVelox 3

JV-QCVelox

高性能HRXRD用于GaN LED和III-V材料的外延层质量控制

JVDX工具图像v2

JV-DX

用于材料研究,工艺开发和质量控制的薄膜分析的X射线测量系统

RADS Software Icon v1

RADS软件

软件可实现快速准确的XRD测量分析